지식재산 판매 | 표면장력 측정 장치 및 측정 방법
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작성자 이성 국제특허법률사무소 작성일19-02-12 14:01 조회2,887회 댓글0건첨부파일
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DATE : 2019-02-12 14:01:45
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| 지식재산종류 | 특허 | 국가 | 한국 |
| 명칭 | 표면장력 측정 장치 및 측정 방법 | ||
권리자(출원인) | 서울대학교 산학협력단 | 발명자 | 이정훈, 최승열 |
| 출원일 | 2017.03.29. | 출원번호 | 10-2017-0040306 |
| 공개일 | 2017.05.24. | 공개번호 | 10-2017-0057180 |
| 등록일 | 2017.07.04. | 등록번호 | 10-1756216 |
| 지식재산 개요 및 특징 | 본 발명의 실시예에 따른 표면장력 측정 장치는 절연성 액체가 적극을 덮으며 실장되는 적어도 하나의 셀, 전극에 전압을 인가하는 전원부, 전극에 인가된 전압으로 변동되는 비절연성 액체와 절연성 액체의 계면의 저점을 계측하는 계측부 및 계면의 저점에 기초하여 상기 계면의 표면장력을 계산하는 계산부를 포함함을 특징으로 함. | ||
지식재산 분야 | 전자 | 지식재산 단계 | 연구개발 완료 |
| 지식재산 거래형태 | 권리양도/라이센싱 | 지식재산 거래조건 | 협의 후 결정 |
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